測(cè)試治具是專(zhuān)門(mén)對(duì)產(chǎn)品的功能、功率校準(zhǔn)、壽命、性能等進(jìn)行測(cè)試、試驗(yàn)的一種治具。

　　根據(jù)測(cè)試功能的不同它又可分為鉆孔工具、功能測(cè)試治具、ICT測(cè)試治具、過(guò)錫爐治具等測(cè)試治具，而由于功能測(cè)試治具和ICT測(cè)試治具應(yīng)用場(chǎng)景的相近很多用戶(hù)往往不知道它們的區(qū)別是什么的，這里治具廠家鴻沃科技就來(lái)為大家詳細(xì)介紹下的。

　　首先測(cè)試功能不同，功能測(cè)試治具是一種用來(lái)測(cè)試半成品/成品或生產(chǎn)環(huán)節(jié)中的某一個(gè)工序，主要是對(duì)產(chǎn)品的功能進(jìn)行測(cè)試的設(shè)備，以此來(lái)判斷被測(cè)對(duì)象是否達(dá)到了初始設(shè)計(jì)者目的的機(jī)械輔助治具；而ICT測(cè)試治具是對(duì)在線(xiàn)元器件的性能、原理及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備。具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)

　　其次應(yīng)用場(chǎng)景不同，功能測(cè)試治具主要應(yīng)用于模擬、數(shù)字、存儲(chǔ)器、RF和電源電路等的測(cè)試，主要包括電壓、電流、功率、功率因素、頻率、占空比、亮度與顏色、字符識(shí)別、聲音識(shí)別、溫度測(cè)量、壓力測(cè)量、運(yùn)動(dòng)控制、FLASH和EEPROM燒錄等測(cè)試項(xiàng)目。而ICT測(cè)試治具它主要用于檢查在線(xiàn)的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，成批量的板子，附加值高且定型的板子，以及模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能等的測(cè)試。

　　三制作原理不同，功能測(cè)試治具的主要考慮工件的定位、緊固以及如何實(shí)現(xiàn)功能測(cè)試；而ICT測(cè)試治具根據(jù)電路板的機(jī)械尺寸圖，把電路板上面的DIP腳，測(cè)試點(diǎn)的位置打孔，然后插針，把電路板中的網(wǎng)絡(luò)(NET)就是PCB走線(xiàn)，全部引出來(lái)，達(dá)到外部來(lái)用儀器測(cè)試其內(nèi)部是電路結(jié)構(gòu)即可。

　　其實(shí)不管是功能測(cè)試治具還是ICT測(cè)試治具都是測(cè)試治具下的一個(gè)分類(lèi)，使用他們的目的都是一樣的，為了提高產(chǎn)品的質(zhì)量和降低生產(chǎn)產(chǎn)品不良率。

　　標(biāo)簽：噴涂自轉(zhuǎn)治具廠家